X선 회절기를 이용하여 시료 중 석면의 특정한 회절 피크의 특성을 관찰하여 정성 및
정량분석을 하기 위한 것이다.

적용범위

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고형폐기물을 포함한 건축자재의 분석에 사용되며 유기, 무기성분의 조합으로 된 모든
석면함유 물질에서 석면 유무를 판단할 수 있다. X선 회절기로 판단할 수 있는 석면
의 정량범위는 0.1 ～ 100.0 wt % 이다.

간섭물질

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간섭물질로는 클로라이트(chlorite), 세피오라이트(sepiolite), 석고(gypsum), 섬유소
(cellulose), 탄산염(carbonates), 탄산칼슘(CaCO3), 활석(talc) 등이 있어, 7.2.1 ～ 7.2.3
과 같이 회화, 염산, 용매 처리방법을 선택하여 간섭물질을 제거한다. 또한 안티고라이
트(antigorite), 리자다이트(lizardite)는 백석면(chrysotile), 할로이사이트(halloysite), 카
올리나이트(kaolinite)는 갈석면(amosite)과 동일한 X선 회절피크를 가지고 있는 물질
이므로 확인이 필요하다.(표 1) 

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